一、實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備發(fā)生故障的原因
高校實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備發(fā)生故障的原因一般可歸納為以下3類：
1、儀器設(shè)備外部因素不正常所引起的故障
這類故障主要由于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度、濕度不適宜，供電電壓不穩(wěn)，外部電磁場(chǎng)以及儀器受震動(dòng)而引起的。在溫度過(guò)高、濕度過(guò)大、通風(fēng)不良等環(huán)境條件下，設(shè)備運(yùn)行過(guò)程中某些元件會(huì)過(guò)熱，甚至燒毀，電路板會(huì)氧化、遭腐蝕損壞，電路短路以及導(dǎo)電性灰塵吸潮也能夠直接燒壞元件。
2、人為的操作使用過(guò)程不當(dāng)引起的故障
如果操作者在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中操作不當(dāng)，致使一些液體流入儀器內(nèi)部的電路板或元件上，會(huì)發(fā)生化學(xué)腐蝕和電化學(xué)腐蝕，使儀器受損。有的儀器設(shè)備在開(kāi)機(jī)后須預(yù)熱一段時(shí)間方可使用，而有的儀器設(shè)備在開(kāi)機(jī)后須按要求進(jìn)行調(diào)整、校正參數(shù)才能使用。如果儀器發(fā)生故障前的征兆沒(méi)能引起使用者注意，極有可能造成儀器損壞。這些人為操作不當(dāng)出現(xiàn)的故障應(yīng)引起管理者足夠重視。
3、儀器設(shè)備自身內(nèi)部某些元件質(zhì)量缺陷引起的故障。
碳膜電位器，多圈電位器或機(jī)械零部件因磨損、氧化或接觸不良能夠造成儀器設(shè)備的故障；儀器設(shè)備所使用的元器件性能不佳，例如，半導(dǎo)體器件、集成電路、電阻、電容等性能不穩(wěn)定也會(huì)引發(fā)故障；儀器設(shè)備生產(chǎn)廠家制造工藝落后、元器件虛焊、插件接觸不良，也能使儀器在使用過(guò)程中因瞬間電流偏高而擊穿元器件，造成短路或開(kāi)路的故障。
二、實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備出現(xiàn)故障應(yīng)對(duì)方法
由于各種實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備的結(jié)構(gòu)、工作原理各不相同，即使同一種儀器設(shè)備、同一故障現(xiàn)象，故障原因也可能不同。目前儀器設(shè)備在不斷更新?lián)Q代，同種儀器的兩代產(chǎn)品，其內(nèi)部也有著不一樣的構(gòu)造，這給維修帶來(lái)一些麻煩。因此，為了保證教學(xué)與科研實(shí)驗(yàn)設(shè)備能夠安全、穩(wěn)定、有序地運(yùn)行，需要維修工程技術(shù)人員熟悉各種儀器性能，對(duì)儀器設(shè)備的故障要有一個(gè)全面了解和解決方案。在維修過(guò)程中，要善于觀察、準(zhǔn)確判斷，靈活應(yīng)用各種維修方法，努力發(fā)現(xiàn)儀器維修中的一些共性問(wèn)題。
1、故障診斷
（1）詢問(wèn)用戶使用情況，維修技術(shù)人員接到故障設(shè)備后，不要急于拆開(kāi)它，要詢問(wèn)用戶使用情況，產(chǎn)生故障的現(xiàn)象以及故障前的異�，F(xiàn)象等，并做好記錄，為下一步維修做好準(zhǔn)備。
（2）試機(jī)觀察：觀察包括看與聞，觀察儀器設(shè)備組成部分的外形變化，如，熔斷絲是否燒斷，緊固件是否松動(dòng)，整機(jī)有否冒煙現(xiàn)象，儀器內(nèi)部是否短路而出現(xiàn)跳閘現(xiàn)象；聞儀器是否散發(fā)出焦糊氣味。
（3）測(cè)量：這項(xiàng)工作是在詢問(wèn)與觀察基礎(chǔ)上，依據(jù)不同儀器設(shè)備整機(jī)工作原理，結(jié)合故障現(xiàn)象，判斷產(chǎn)生故障原因。可以運(yùn)用萬(wàn)用表檢測(cè)相關(guān)點(diǎn)的電壓和電流，用示波器檢測(cè)相應(yīng)點(diǎn)的波形圖，縮小查找故障范圍，確定故障部位和故障元器件。
2、故障排除方法
（1）直觀法維修
儀器常出現(xiàn)的故障現(xiàn)象是開(kāi)機(jī)時(shí)無(wú)任何顯示。若是機(jī)械故障，應(yīng)檢查齒輪是否磨損、傳動(dòng)帶是否老化斷裂、支柱或螺栓是否松動(dòng)等；若是電路故障，可查電源部分是否正常、熔斷絲是否燒斷�？筛鶕�(jù)熔斷絲燒斷程度判斷故障是儀器內(nèi)部引起，還是外部因素引起。如果熔斷絲燒斷較黑，常是儀器內(nèi)部大功率元器件短路；如果熔斷絲斷絲清晰則常是由儀器外部供電電壓與電流不穩(wěn)或是儀器內(nèi)部小元件故障引起。另外，光學(xué)顯微鏡光源燈、分光光度計(jì)光源燈等因長(zhǎng)期使用，燈腳易被氧化，造成接觸不良而無(wú)法點(diǎn)亮，用細(xì)砂紙打磨光潔可恢復(fù)正常使用。儀器內(nèi)部繼電器觸點(diǎn)被氧化以及各類儀器彈性開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)、觸膜屏的功能選擇觸點(diǎn)按鈕等均可用細(xì)砂紙打磨光潔或使用觸點(diǎn)清潔劑處理。
（2）替代法維修
在維修過(guò)程中，需更換的元器件若一時(shí)無(wú)法購(gòu)買(mǎi)到相同型號(hào)的產(chǎn)品，則可選擇替代法。如，維修采樣值無(wú)法達(dá)到要求的KC-120H型智能中流量TSP采樣器，經(jīng)查是1.5KΩ多圈電位器失效，而市面上未能購(gòu)到同阻值元件，則選擇阻值相差不大的2kΩ多圈電位器替換，儀器即恢復(fù)正常。一般情況下，替代電位器可選用功率接近、阻值略大些的即可；晶體管的代換，可根據(jù)耐壓值、擊穿電流等參數(shù)，選擇參數(shù)值接近的代換。
（3）對(duì)比法維修
一些儀器在出現(xiàn)故障時(shí)，用戶無(wú)法提供使用說(shuō)明書(shū)及電路圖，甚至儀器設(shè)備廠家根本沒(méi)有提供電路圖。在這種情況下就要用對(duì)比法或參照法維修，當(dāng)故障元器件被燒毀、腐蝕、氧化而無(wú)法確認(rèn)參數(shù)值時(shí)，可以查看同類儀器中功能相同部分的電路，其電路中有一些元器件組存在一致性、對(duì)稱性。對(duì)照測(cè)試同類儀器對(duì)應(yīng)元器件的參數(shù)，為排除故障提供參考依據(jù)。
（4）測(cè)量分析法維修
對(duì)一些內(nèi)部電路較復(fù)雜的儀器設(shè)備，應(yīng)依使用功能分為若干部分，有針對(duì)性進(jìn)行分析、檢查，使用萬(wàn)用表測(cè)量相關(guān)點(diǎn)的電壓并與正常值比較，使用示波器察看波形信號(hào)以分析故障范圍，找出電路中的故障元器件。
（內(nèi)容參考實(shí)驗(yàn)與分析網(wǎng)）
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